Микроэлектроника, 2021, T. 50, № 4, стр. 274-280

Трансформация спектров нарушенного полного внутреннего отражения в процессе сушки диазохинон-новолачного фоторезиста

Д. И. Бринкевич a, С. Д. Бринкевич a*, А. Н. Петлицкий b**, В. С. Просолович a

a Белорусский государственный университет
220030 Минск, Беларусь

b ГЦ “Белмикроанализ” ОАО “ИНТЕГРАЛ” – управляющая компания холдинга “ИНТЕГРАЛ”
Минск, Беларусь

* E-mail: brinkevichsd@bsu.by
** E-mail: petan@tut.by

Поступила в редакцию 30.11.2020
После доработки 16.12.2020
Принята к публикации 29.12.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Методом ИК-Фурье спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) исследованы растворы и пленки позитивного диазохинон-новолачного фоторезиста ФП9120. В спектрах НПВО раствора фоторезиста доминирующими являются полосы 966, 1110, 1240 и 1735 см–1, обусловленные поглощением растворителя – 1-метокси-2-пропилацетата. Полное удаление растворителя из пленок фоторезиста толщиной 1.0–5.0 мкм происходит в процессе сушки при температурах ~90°С продолжительностью 1 ч. Детектировать остаточный растворитель в твердых пленках фоторезиста предпочтительнее всего по полосе 966 см–1. Интенсивность колебаний, связанных с ароматическими кольцами (полосы в диапазоне 1510–1610 см–1), после сушки увеличивается. Полоса 1452 см–1, обусловленная валентными колебаниями, связанными с СН2-мостиком между ароматическими кольцами фенолформальдегидной смолы, после сушки расщепляется на 2 полосы.

Ключевые слова: спектр нарушенного полного внутреннего отражения, НПВО, диазохинон-новолачный фоторезист, кремний

ВВЕДЕНИЕ

Диазохинон-новолачные (ДХН) резисты являются наиболее распространенными фоторезистами (ФР) [1, 2]. В настоящее время они используются при производстве более 80% интегральных микросхем в мире. Как правило, ДХН-резисты состоят из 3 компонентов: органического растворителя (обычно ацетаты, простые эфиры гликолей или их смеси), новолачной смолы (связующее или матрица, отвечающая за пленкообразующие свойства) и производных нафтхинондиазида (светочувствительный компонент). Позитивный фоторезист марки ФП9120 представляет собой композит из фенол- и крезолоформальдегидных смол и светочувствительного о-нафтхинондиазида. В качестве растворителя обычно используется высокоочищенный 1-метокси-2-пропилацетат (МПА) [3].

Определяющим этапом формирования пленок фоторезиста на кремнии является сушка, качество которой существенно влияет на все последующие операции литографии. Сушка уменьшает внутренние напряжения в пленке фоторезиста и усиливает адгезию ФР к кремниевой подложке. Основным требованием к сушке является полное удаление растворителя, так как он снижает фоточувствительность ДХН-резиста [4].

Метод ИК-Фурье спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) не требует специальной подготовки образцов, является экспрессным исследованием и позволяет получать информацию о составе и структуре сложных органических соединений и их смесей в твердом и жидком агрегатном состоянии [5]. Отметим, что ранее метод НПВО применялся для исследования радиационно-индуцированных процессов при ионной имплантациии γ-облучении пленок ДХН-резистов, нанесенных на пластины монокристаллического кремния [69].

Цель настоящей работы – исследование методом НПВО процессов, протекающих при сушке диазохинон-новолачного фоторезиста марки ФП9120.

МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА

Спектры НПВО растворов и пленок фоторезиста (ФР), а также структур фоторезист/кремний, регистрировались в диапазоне волновых чисел ν = 400–4000 см–1 при комнатной температуре ИК-Фурье спектрофотометром ALPHA (BrukerOptikGmbH). Разрешение было не хуже 2 см–1, количество сканов – 24. Коррекция фона проводилась перед каждым измерением.

Сушка фоторезиста осуществлялась в сухожаровом шкафу при температуре 60°С длительностью 4 ч на стеклянной пластине. Затем отвердевшую пленку фоторезиста отделяли от стеклянной пластины для проведения измерений спектров НПВО. Структуры фоторезист/кремний формировались методом центрифугирования [10]. В качестве подложек использовались пластины кремния n-типа (ρ = 4.5 Ом ⋅ см). После формирования пленки ФР на рабочей стороне пластины проводилась ее сушка в течение 50–55 мин при температуре 88°С.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ

В спектрах НПВО растворов ФР доминирующими являются полосы 966, ~1110, ~1240 и 1735 см–1 (рис. 1). Они соответствуют наиболее интенсивным полосам поглощения растворителя – 1-метокси-2-пропилацетата (рис. 2), составляющего около 70% от общей массы раствора фоторезиста [3]. Энергетическое положение наиболее интенсивных полос растворителя и доминирующих полос растворов ФР полностью совпадают, что свидетельствует об отсутствии взаимодействия растворителя с полимерным композитом фоторезиста. После сушки интенсивность указанных полос существенным образом (от 2 до 10 раз) снижается. При этом растет фоновое поглощение во всем диапазоне волновых чисел (рис. 1), что может быть обусловлено ухудшением контакта и, соответственно, увеличением рассеяния на границе раздела фоторезист/призма спектрометра. Температура сушки не оказывает существенного влияния на фоновое поглощение пленок ФР в твердом агрегатном состоянии (рис. 3).

Рис. 1.

Спектры НПВО жидкого (1) и высушенного при 60°С (2) фоторезиста в диапазонах волновых чисел от 1000 до 2000 см–1 (а), от 2550 до 4000 см–1 (б), от 400 до 1000 см–1 (в).

Рис. 2.

Спектр НПВО 1-метокси-2-пропилацетата.

Рис. 3.

Спектры НПВО высушенного при 60°С (1) и 88°С (2) фоторезиста в диапазонах волновых чисел от 1000 до 1800 см–1 (а) и от 400 до 1000 см–1 (б).

Наиболее существенно (в >10 раз) в процессе сушки при 60°С длительностью 4 ч снижается интенсивность полосы 966 см–1 (рис. 1в). После термообработки при t = 88°С в течении 55 мин указанная полоса исчезает из спектра НПВО (рис. 2б). Она отнесена к колебаниям С–С–О группы [11, 12], присутствующей в метоксипропилацетате. В других компонентах ФР такой группы нет, поэтому при сушке эта полоса полностью исчезает из спектра НПВО и по ней можно судить о наличии остаточного растворителя в твердых пленках фоторезиста.

Наиболее интенсивные полосы раствора фоторезиста при ~1110 и ~1240 см–1, обусловлены симметричными и антисимметричными валентными колебаниями С–О связей в сложных эфирах [11]. После сушки при 60°С их интенсивность снижается примерно в ~2 раза (рис. 1а), полосы расщепляются, у них появляется по 2 дополнительных максимума – 1097 и 1076 см–1 у полосы 1110 см–1, а также 1230 и 1260 см–1 – у полосы 1240 см–1. После повышения температуры до 88°С полосы 1110 и 1240 см–1 исчезают из спектра НПВО (рис. 3а). В диапазоне волновых чисел 1150–1200 см–1 после сушки 60°С проявляется новая полоса с максимумом 1175 см–1 (рис. 1а), которая после термообработке при 88°С становится доминирующей в указанном диапазоне волновых чисел (рис. 3а). Полученные экспериментальные результаты могут быть обусловлены тем, что С–О связи имеются не только у растворителя, но и у других компонентов ФР, в частности, у фенол- и крезолоформальдегидных смол. Частоты колебаний С–О связи зависят от ближайшего окружения и в смолах они будут отличаться от νС–О в растворителе. При испарении растворителя в спектре НПВО в рассматриваемом диапазоне волновых чисел начинают доминировать колебания С–О связей в о-нафтхинондиазиде и в фенольной группе смолы.

Третья по интенсивности в растворе ФР полоса с максимумом 1735 см–1 обусловлена колебаниями С=О связей в ацетатах [11]. После сушки при 60°С ее интенсивность снижается более чем в 3 раза и в этом диапазоне волновых чисел доминирующей становится полоса с максимумом 1705 см–1, связанная с колебаниями С=О связей в ароматических соединениях (рис. 1а). Полоса с максимумом 1735 см–1 полностью исчезает из спектра НПВО после сушки при 88°С (рис. 3а), что свидетельствует о полном удалении растворителя при этой температуре.

К полосам, связанным с растворителем, можно также отнести полосу ~1020 см–1, обусловленную деформационными колебаниями С–С–Н групп [12]. Ее интенсивность в процессе сушки снижается (рис. 1а), а максимум смещается к 1015 см–1. Однако указанная полоса полностью не исчезает из спектра при сушке. Это обусловлено тем, что указанную группу можно выделить также в составе крезоло- и фенолформальдегидных смол.

Приведенные экспериментальные данные позволяют утверждать, что для полного удаления растворителя из ФР необходима сушка при 88°С длительностью до 1 ч. При 60°С даже длительная (до 4 ч) термообработка в сухожаровом шкафу не приводит к полному удалению растворителя – исчезновению полос 966 и 1736 см–1 из спектра НПВО. Детектировать остаточный растворитель в твердом ФР лучше всего по полосе 966 см–1. Она не имеет близкорасположенных полос от других компонентов ДХН-резиста.

Интенсивность полос, связанных с ароматическими кольцами после сушки увеличивается. Это справедливо как для пульсационных колебаний углеродного скелета (полосы в диапазоне 1540–1610 см–1), так и валентных колебаний ароматического кольца (полоса 1506 см–1) [13]. Полоса 1452 см–1, обусловленная валентными колебаниями, связанными с СН2-мостиком между ароматическими кольцами фенолформальдегидной смолы [14], после сушки расщепляется на 2 полосы, причем интенсивность новой полосы 1435 см–1 существенно превышает интенсивность полосы 1452 см–1 (рис. 1а). Отметим, что в спектре растворителя МПА наблюдается относительно слабая полоса с максимумом 1454 см–1 (рис. 2). Поэтому интенсивность полосы 1452 см–1 после сушки раствора ФР едва видна на фоне полосы 1435 см–1.

Причина наблюдавшегося расщепления полосы 1452 см–1 в процессе формирования пленки ФР до конца не ясна и может быть связана с принципиально разными процессами. Во-первых, уменьшение частоты колебаний на 17 см–1 может быть обусловлено изменением угла мостиковой С–CН2–С связи между фенольными фрагментами. С учетом sp3-гибридизации атома углерода валентный угол С–CН2–С связи должен составлять 109°28′. При этом все атомы углерода в составе фенольных колец обладают sp2-гибридизацией и расположены в плоскости. В процессе формирования пленки образуется более плотная упаковка полимерного композита. Возникающая при этом деформация может приводить к изменению угла связи в мостиковых С–CН2–С фрагментах, что обуславливает снижение частоты колебаний этого фрагмента. Во-вторых, атомы водорода в С–CН2–С мостиковых группах обладают слабой С–Н кислотностью и потенциально могут участвовать в образовании межмолекулярных водородных связей с электроно-донорными атомами. Изменение частоты колебаний С–CН2–С мостиковой группы может быть обусловлено и химической модификацией ее структуры. Например, в работе [15] авторы отмечали возможность присоединения нафтохинондиазида по –CН2– фрагментам фенолформальдегидной смолы.

Полоса с максимумом ~1372 см–1 при сушке уширяется, ее максимум смещается в низкоэнергетичную область на 6 см–1, а интенсивность слабо снижается (рис. 1а). Узкая полоса средней интенсивности с максимумом 1372 см–1 присутствует в спектре растворителя (рис. 2). Она соответствует колебаниям С–О–С группы в ацетатах [11]. С другой стороны, в этой же области в пленках ДХН-резистов ранее [16] отмечалось 2 вида колебаний – полоса с максимумом ~1373 см–1, которая соответствует деформационным плоскостным колебаниям О–Н-связей в фенольной группе [14] и полоса с максимумом ~1360 см–1, отнесенная к колебаниям С–О–С в фуране [11, 13] и, вероятно, связанная с кислородными мостиками между ароматическими фрагментами ФР. В твердом агрегатном состоянии в фенолформальдегидном компоненте ФР наблюдается образование межмолекулярных связей, осуществляемых через фенольную гидроксильную группу [17]. При определенных условиях синтеза полимерного композита ФР может наблюдаться сшивка молекул смолы через атом кислорода фенольной группы с образованием С–О–С фрагментов, что приводит к появлению полосы с максимумом ~1360 см–1.

После сушки существенно снижается интенсивность полос в диапазоне волновых чисел ν = = 2800–3000 см–1, обусловленных валентными асимметричными и симметричными колебаниями С–Н связей (рис. 1б). Наиболее интенсивная полоса с максимумом 2882 см–1 исчезает из спектра НПВО. В спектре остаются только полосы, обусловленные метиленовой СН2 (~2925 см–1) и метильной СН3 (~2960 см–1) группами. Отметим, что при сушке максимум полосы метильной группы смещается в низкоэнергетичную область на 14–18 см–1 (рис. 1б). Для метиленовой группы смещение менее выражено – до 6 см–1. При этом, энергетическое положение полос колебаний С–Н связей в спектрах 1-метокси-2-пропилацетата (рис. 2) и раствора ФР (рис. 1б) совпадает, слабо изменяется только соотношение их интенсивностей. Это может служить дополнительным подтверждением отсутствия межмолекулярного взаимодействия растворителя и полимерного композита ФР. В высушенном ФР наблюдаются только полосы связанных с ароматическим кольцом метиленовых и метильных групп крезолоформальдегидных смол.

Деформационные внеплоскостные колебания С–Н связей наблюдаются в диапазоне волновых чисел 650–900 см–1 [13]. В растворе ФР в этом диапазоне присутствует ряд полос средней и слабой интенсивности, которые при сушке ведут себя по-разному (рис. 1в). Интенсивность полос 820 и 750 см–1, обусловленных внеплоскостными деформационными колебаниями пара- и ортозамещенного фенольного кольца [15], в процессе сушки практически не изменяется. У полос слабой интенсивности с максимумами 450, 510, 690, 847 и 920 см–1 при сушке интенсивность снижается и после термообработки при температуре 88°С они исчезают из спектра НПВО. Отмеченные выше полосы наблюдаются и в спектре НПВО растворителя (рис. 2) и, вероятнее всего, их исчезновение из спектра после сушки обусловлено удалением растворителя. Интенсивность полос 708 и 885 см–1 наоборот увеличивается при сушке. Полоса 708 см–1 отнесена к деформационным колебаниям С–Н связей мостиковой метиленовой группы фенолформальдегидной смолы [14]. Полосы 550, 650 и 783 см–1 ведут себя при сушке нестабильно – при 60°С их интенсивность растет (рис. 1в), а при 88°С снижается (рис. 2б). Природа этих полос НПВО окончательно не установлена, что затрудняет анализ механизмов их трансформации в процессе термообработки. Отметим, что полосы 708, 750 и 820 см–1 наблюдаются в спектрах всех образцов, в том числе в пленках ФР на кремнии. Остальные полосы в спектрах НПВО появляются эпизодически.

В области валентных колебаний ОН групп в растворах ФР наблюдалась только широкая полоса ν = 3600–3100 см–1 с максимумом ~3380 см–1, обусловленная колебаниями ОН групп, участвующих в образовании водородных связей (рис. 1б). Полос колебаний свободных ОН групп не обнаружено. После сушки максимум этой полосы смещается в низкоэнергетическую область до значений 3310–3320 см–1.

В этот же диапазон волновых чисел попадают валентные симметричные (νsy = 3756 см–1) и ассиметричные (νаs = 3656 см–1) колебания молекул воды [11]. Из рис. 1б видно, что в диапазоне волновых чисел 3700–3800 см–1 полос поглощения не наблюдается. Это говорит о том, что как в растворах, так и в пленках ФР молекулы Н2О в свободном состоянии отсутствуют. Однако не исключено наличие воды в связанном состоянии. В этом случае значения νsy будут попадать в полосу связанных О–Н колебаний ν = 3600–3100 см–1.

Следует отдельно остановиться на поведении полосы с максимумом ~2115 см–1 (рис. 3). В свежеприготовленном фоторезисте она обычно не наблюдается. При хранении/облучении видимым светом ее интенсивность возрастает с течением времени. Так после выдержки при комнатном освещении в течение 1–3 ч она хорошо видна в спектре НПВО (кривые 1, 2 рис. 4). После сушки в сухожаровом шкафу при 60°С в течение 4 ч ее интенсивность существенно возрастает (кривая 3 рис. 4). В свежеприготовленных структурах фоторезист/кремний (после сушки при 88°С) эта полоса отсутствует. Отметим, что при хранении на свету структур фоторезист/кремний ее интенсивность растет в 2–4 раза медленнее, чем в жидком ФР. Термообработка при температурах 90–125°С и γ-облучение дозой свыше 10 кГр приводили к снижению интенсивности указанной полосы вплоть до исчезновения из спектра НПВО. Эта полоса была отнесена [9] к валентным колебаниям двойных кумулятивных С=С=О связей в кетене, который образуется при освещении светочувствительного компонента ФР – о-нафтохинондиазида [1, 2]. Она может быть использована для анализа качества (сохранности) ФР и структур фоторезист/кремний.

Рис. 4.

Полоса валентных колебаний двойных куммулятивных С=С=О связей в свежеприготовленном фоторезисте (1), после выдержки при комнатном освещении в 1 ч (2) и сушки в сухожаровом шкафу при 60°С на протяжении 4 ч (3).

Синхронно с полосой 2115 см–1 изменяется интенсивность полосы с максимумом 1403 см–1 (рис. 1а), что позволило также связать ее с образованием кетена [9, 18]. Однако она менее пригодна для анализа качества ФР, поскольку в этом диапазоне возможно наложение других более интенсивных полос с близким энергетическим положением.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В спектрах НПВО раствора фоторезиста доминирующими являются полосы 966, 1110, 1240 и 1735 см–1. Они обусловлены растворителем – 1-метокси-2-пропилацетатом, составляющим около 70% от общей массы раствора фоторезиста. После сушки их интенсивность существенным образом (от 2 до 10 раз) снижается. Наиболее существенно при сушке снижается интенсивность полосы 966 см–1. После термообработки 88°С длительностью 55 мин указанная полоса исчезает из спектра НПВО. Анализ полученных экспериментальных данных указывает на то, что сушка при 60°С длительностью 4 ч не полностью удаляет растворитель из фоторезиста. Это происходит только в процессе термообработки при температурах ~90°С длительностью ~1 ч. Детектировать остаточный растворитель в твердом фоторезисте предпочтительнее по полосе 966 см–1. Она не имеет близкорасположенных полос НПВО, обусловленных другими компонентами фоторезиста. Интенсивность полос, связанных с ароматическими кольцами после сушки увеличивается. Это справедливо как для пульсационных колебаний углеродного скелета (полосы в диапазоне 1540–1610 см–1), так и валентных колебаний ароматического кольца (полоса 1510 см–1). Полоса 1452 см–1, обусловленная валентными колебаниями связанного с СН2-мостиком ароматического кольца фенолформальдегидной смолы, после сушки расщепляется на 2 полосы, что может быть связано с изменением угла С–CH2–С связи между ароматическими кольцами, межмолекулярными взаимодействиями с участием –CH2– мостика или взаимодействием с нафтхинондиазидом.

Авторы выражают благодарность Е.В. Гринюку за помощь при проведении измерений спектров НПВО.

Список литературы

  1. Morshed M.M., Daniels S.M. Effect of positive photoresist on silicon etching by reactive ion etching process // IEEET rans. on Plasma Science. 2010. V. 38. № 6. P. 1512–1516.

  2. Бринкевич Д.И., Бринкевич С.Д., Вабищевич Н.В., Оджаев В.Б., Просолович В.С. Ионная имплантация позитивных фоторезистов // Микроэлектроника. 2014. Т. 43. № 3. С. 193–199.

  3. https://frast.ru/tu9120.pdf.

  4. Лапшинов Б.А. Технология литографических процессов. Учебное пособие. М., 2011. 95 с.

  5. Беккер Ю. Спектроскопия. М.: Техносфера, 2009. (Bocker J. Spektroskopie. Vogel Industrie Medien GmbH& CoKG. Wurzburg (Germany). 1997.)

  6. Бринкевич С.Д., Бринкевич Д.И., Просолович В.С. Модификация пленок диазохинон-новолачного фоторезиста имплантацией ионов сурьмы // Микроэлектроника. 2021. Т. 50. № 1. С. 32–37.

  7. Brinkevich S.D., Grinyuk E.V., Brinkevich D.I., Sverdlov R.L., Prosolovich V.S., Pyatlitski A.N. Mechanism of the Adhesive Interaction of Diazoquinone-Novolac Photoresist Films with Monocrystalline Silicon // J. Applied Spectroscopy. 2020. V. 87. № 4. P. 647–651.

  8. Вабищевич С.А., Вабищевич Н.В., Эспиноза Де Лос Монтеро Г.А., Бринкевич Д.И., Просолович В.С. Радиационно-индуцированные процессы в пленках диазохинон-новолачного резиста на кремнии при имплантации ионов Ag+ // Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки. Физика 2020. № 4. С. 43–47.

  9. Бринкевич С.Д., Гринюк Е.В., Бринкевич Д.И., Просолович В.С. Модификация пленок диазохинон-новолачного фоторезиста за областью внедрения ионов В+ // Химия высоких энергий. 2020. Т. 54. № 5. С. 377–386.

  10. Бринкевич Д.И., Харченко А.А., Просолович В.С., Оджаев В.Б., Бринкевич С.Д., Янковский Ю.Н. Модификация спектров отражения пленок диазохинон-новолачного фоторезиста при имплантации ионами бора и фосфора // Микроэлектроника. 2019. Т. 48. № 3. С. 235–239.

  11. Тарасевич Б.Н. ИК спектры основных классов органических соединений. Справочные материалы. М.: МГУ, 2012.

  12. Бобкова Е.Ю., Васильева В.С., Ксенофонтов М.А., Умрейко Д.С. Влияние агрегатного состояния на спектральные характеристики фенола // Вестник БГУ. Сер. 1. 2008. № 1. С. 12–18.

  13. Преч Э., Бюльманн Ф., Аффольтер К. Определение строения органических соединений. Таблицы спектральных данных. М.: Мир, Бином; 2006.

  14. Poljansek I., Sebenik U., Krajnc M. Characterization of Phenol–Urea–Formaldehyde Resin by Inline FTIR Spectroscopy // J. Applied Polymer Science. 2006. V. 99. P. 2016–2028.

  15. Debmalya Roy, Basu P.K., Raghunathan P., Eswaran S.V. DNQ-novolac photoresist revisited: 1H and 13C NMR evidence for a novel photoreaction mechanism // Magnetic resonance in chemistry. 2003. V. 41. P. 84–90.

  16. Бринкевич С.Д., Бринкевич Д.И., Просолович В.С., Ластовский С.Б., Петлицкий А.Н. Спектры нарушенного полного внутреннего отражения пленок диазохинон-новолачных резистов, облученных электронами // Журн. прикладной спектроскопии. 2020. Т. 87. № 6. С. 941–948.

  17. Лебедев В.И., Котомина В.Е., Зеленцов С.В., Леонов Е.С., Сидоренко К.В. Влияние межмолекулярных водородных связей на качество фоторезистивных масок // Вестник Нижегородского университета. Химия. 2014. № 4(1). С. 178–182.

  18. Бринкевич Д.И., Просолович В.С., Янковский Ю.Н. Модификация пленок диазохинонноволачного фоторезиста имплантацией ионов бора // Журн. Белорусского государственного университета. 2020. № 2. С. 62–69.

Дополнительные материалы отсутствуют.