1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Журнал неорганической химии
  4. T. 68, № 3, 2023

Журнал неорганической химии, 2023, T. 68, № 3, стр. 426-432

Синтез и электрические свойства композитов Nd2(WO4)3–SiO2

А. Ф. Гусева a, Н. Н. Пестерева a, *

a Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина
620002 Екатеринбург, ул. Мира, 19, Россия

* E-mail: Natalie.Pestereva@urfu.ru

Поступила в редакцию 05.09.2022
После доработки 17.10.2022
Принята к публикации 18.10.2022

Полный текст (PDF)

Аннотация

Твердофазным методом получены композиты (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 с мольной долей оксида кремния x ≤ 0.5. Фазовый состав композитов и их термодинамическая стабильность подтверждены соответственно методами рентгенофазового анализа и термогравиметрии в совокупности с дифференциальной сканирующей калориметрией. Методом сканирующей электронной микроскопии в совокупности с энергодисперсионным анализом исследована морфология композитов. Электропроводность композитов, измеренная методом электрохимического импеданса, исследована в зависимости от температуры, давления кислорода в газовой фазе и содержания дисперсной добавки – оксида кремния. Изучены температурные зависимости суммы ионных чисел переноса композитов методом ЭДС, установлен ионный характер проводимости композитов. Обнаружен композитный эффект проводимости в исследуемой системе: добавление 30 мол. % нанодисперсного оксида кремния к вольфрамату неодима приводит к росту ионной проводимости более чем на два порядка.

Ключевые слова: гетерогенное допирование, вольфрамат неодима, нанодисперсный оксид кремния, композитный эффект проводимости, композитные твердые электролиты

ВВЕДЕНИЕ

Вольфраматы редкоземельных металлов Ln2(WO4)3 (Ln = La, Sm, Eu, Gd, Nd) со структурой дефектного шеелита широко используются в технике как компоненты лазерных материалов и катализаторов [1–6]. Недавние исследования показали, что у этих веществ может быть еще одно интересное применение, связанное с их электрическими свойствами. В работе [7] установлено, что основными носителями заряда в этих веществах являются ионы кислорода. Однако ионная проводимость вольфраматов РЗЭ слишком низкая для практического применения. Эффективным методом увеличения ионной проводимости является гетерогенное допирование веществ высокодисперсными инертными добавками, такими как SiO2, Al2O3, TiO2 и т.д. [9, 10]. Композитный эффект (резкий скачок ионной проводимости гетерогенной системы при небольшом содержании гетерогенной добавки) дает возможность расширить выбор твердых электролитов с различными функциональными свойствами и решить проблему улучшения их эксплуатационных характеристик, что является актуальной задачей.

Причины высокой ионной проводимости композитов, требования, предъявляемые к составляющим композита – веществам матрицы и дисперсной добавки, к настоящему времени хорошо исследованы и подробно описаны в литературе [8–11], особенно для ионных солей. Что касается вольфраматных систем, то наиболее подробно исследованы композиты на основе вольфраматов щелочноземельных металлов c дисперсной добавкой WO3. В работах А.Я. Неймана с соавт. показано, что добавление всего 1–2 об. % WO3 к MWO4 (M = Ca, Sr, Ba) приводит к росту кислородно-ионной проводимости на 1.5 порядка. Полученные данные были объяснены в рамках модели, представляющей композит как матричную распределенную систему, в которой роль связной матрицы выполняет поверхностная фаза MW-s с высокой концентрацией вакансий кислорода и, как следствие, высокой подвижностью ионов кислорода [12, 13]. Аналогичный эффект был обнаружен для системы Sm2(WO4)3–WO3. Дисперсная добавка – оксид вольфрама – обладает низкой поверхностной энергией, вследствие чего легко распространяется по поверхности зерен матрицы (вольфрамата металла), образуя пленку высокопроводящей микрофазы, ответственной за высокую ионную проводимость композитов [14].

Влияние инертной дисперсной добавки с высокой поверхностной энергией (Al2O3, SiO2), не склонной к твердофазному растеканию, на ионную проводимость “вольфраматных” композитов менее изучено. Имеются работы по исследованию композитного эффекта в системах Al2(WO4)3–Al2O3 [15–17], CaWO4–SiO2 [18] и La2(WO4)3–SiO2 [19]. Во всех работах отмечен рост ионной проводимости на 0.5–1 порядок при гетерогенном допировании вольфраматов нанооксидами кремния или алюминия. Концентрационная зависимость проводимости имеет куполообразный вид, характерный для композитов ионный проводник–диэлектрик, и трактуется в рамках перколяционной теории [8].

Для расширения круга объектов и углубления знаний о процессах на межфазной границе матрица/дисперсоид в настоящей работе предпринята попытка синтезировать композиты на основе вольфрамата неодима (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 с мольной долей нанодисперсного оксида кремния x ≤ 0.5 и исследовать их термодинамическую стабильность, морфологию и электротранспортные свойства. Выбор данной системы обусловлен следующими соображениями. Вольфраматы лантана и неодима изоструктурны, и поскольку в исследованной ранее системе La2(WO4)3–SiO2 обнаружен композитный эффект проводимости [19], его можно ожидать и в системе Nd2(WO4)3–SiO2. Кроме того, электропроводность Nd2(WO4)3 выше, чем La2(WO4)3, что позволяет надеяться на бóльшую ионную проводимость композитов на основе вольфрамата неодима.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Вольфрамат неодима Nd2(WO4)3 синтезировали твердофазным методом из Nd2O3 и WO3 квалификации “ос. ч.”. Синтез проводили на воздухе по уравнению:

(1)
${\text{N}}{{{\text{d}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{O}}}_{3}} + 3{\text{W}}{{{\text{O}}}_{3}} \to {\text{N}}{{{\text{d}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{(W}}{{{\text{O}}}_{4}})}_{3}}.$

Смесь реагентов, взятых в стехиометрических количествах, нагревали на воздухе с постепенным повышением температуры от 700 до 1050°С в четыре приема с промежуточными перетираниями в среде этанола. Время отжига на каждом этапе варьировалось от 25 (при 700 и 800°С) до 85 ч (при 900 и 1050°С).

Композиты (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2, где x – мольная доля SiO2, получали механическим смешением порошков вольфрамата неодима и кремнезема. В качестве дисперсной добавки использовали коллоидный диоксид кремния высокой чистоты (Aerosil-300, фирма Degussa) с содержанием SiO2 99.9%. По данным производителя [20], удельная поверхность нанодисперсного порошка составляет 300 м2/г, а средний размер частиц – 7 нм. Тщательно перетертые в среде этилового спирта смеси порошков Nd2(WO4)3 и SiO2 прессовали в дисковые таблетки диаметром 10 мм и толщиной 2 мм под давлением 64 МПа и спекали в течение 24 ч при 1000°С. Относительная плотность брикетов композитов, рассчитанная по их размерам и массе, варьировалась в пределах 88–97% в зависимости от содержания SiO2. Для проведения электрических измерений на поверхности таблеток наносили пористые Pt-электроды, которые припекали при 1000°С в течение 1 ч.

Рентгенофазовый анализ вольфрамата неодима и композитов на его основе выполняли на дифрактометре Bruker D8 Advance в CuKα-излучении.

Исследование морфологии композитов и их элементного состава проводили метoдами электронной микроскопии и энергодисперсионного анализа (СЭМ–ЭДА) сколов брикетов образцов на сканирующем электронном микроскопе Evo LS-10 Carl Zeiss NTS (УЦКП “Современные нанотехнологии” УрФУ ИЕНиМ УрФУ). Изображения поверхности исследуемых материалов были получены с использованием детекторов обратнорассеянных (режим BSE) и вторичных электронов (режим SE).

Синхронные термические анализы (ТГ и ДСК) проводили на приборе Netzsch STA 409 PC Luxx с квадрупольным масс-спектрометром QMS 403 Aеolos. Эквимолярную смесь порошков Nd2(WO4)3 и SiO2 нагревали до 1000оС.

Электропроводность вольфрамата неодима и композитов (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 измеряли методом импедансной спектроскопии с помощью прибора Immittance Parameters Meter IPI1 (Институт проблем управления им. Трапезникова, Москва) в частотном диапазоне 500 Гц–200 кГц (амплитуда тестового сигнала автоматически изменяется в диапазоне 3–300 мВ) в интервале температур 500–900°С. Снятие температурной зависимости электропроводности осуществляли в режиме охлаждения со скоростью 1 град/мин. Зависимость проводимости от парциального давления кислорода измеряли в изотермических условиях. Давление кислорода задавали с помощью прибора ZirconiaM и контролировали кислородным насосом и датчиком из твердого электролита на основе ZrO2 (Y2O3).

Для определения суммы ионных чисел переноса композитов использовали метод ЭДС, основанный на использовании концентрационных гальванических цепей. Для реализации градиента парциального давления кислорода один из электродов принудительно омывали кислородом ($P_{{{{{\text{O}}}_{2}}}}^{{//}} = 1\,\,{\text{атм}}{\text{.}}$), а другой – воздухом ($P_{{{{{\text{O}}}_{2}}}}^{/} = 0.21\,\,{\text{атм}}{\text{.}}$) с помощью микрокомпрессора. Скорость подачи газов к электродам была постоянной. Изоляции газовых пространств электродов добивались тщательной шлифовкой таблеток и прижатием образца к алундовой трубке. Сумму ионных чисел переноса вычисляли по формуле Нернста для проводников со смешанной проводимостью:

(2)
$E = \frac{{RT}}{{4F}}\Sigma {{t}_{{{\text{ион}}}}}\ln \frac{{P_{{{{{\text{O}}}_{{\text{2}}}}}}^{{//}}}}{{P_{{{{{\text{O}}}_{{\text{2}}}}}}^{/}}},$
где R – молярная газовая постоянная; T – температура, K; F – постоянная Фарадея; Σtион – сумма ионных чисел переноса; $P_{{{{{\text{O}}}_{{\text{2}}}}}}^{{//}}$ – парциальное давление кислорода, равное 1 атм.; $P_{{{{{\text{O}}}_{{\text{2}}}}}}^{/}$ – парциальное давление кислорода, равное 0.21 атм.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

РФА. По данным рентгенофазового анализа, получен однофазный вольфрамат неодима и двухфазные композиты (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2, содержащие только исходные компоненты – Nd2(WO4)3 и SiO2 (рис. 1), т.е. химического взаимодействия веществ, входящих в состав композита, не происходит.

Рис. 1.

Результаты рентгенофазового анализа Nd2(WO4)3, SiO2 и композита 0.5Nd2(WO4)3–0.5SiO2.

Рентгенограмма SiO2 представлена размытым максимумом при 2θ = 22.0°, который является характерным для аморфного SiO2 (JCPDS № 29-0085), а также рефлексами кварца: 2θ = 28.7°, 33.3° (JCPDS № 83-540). На рентгенограмме композита 0.5Nd2(WO4)3–0.5SiO2 присутствуют все рефлексы вольфрамата неодима, а также размытый пик аморфного SiO2 при 22°, остальные рефлексы SiO2 (2θ = 28.7°, 33.3°) совпадают с рефлексами вольфрамата неодима: 2θ = 27.7°, 29°, 33.12° (PDF-2 № 00-019-0829) (на рис. 1 показаны стрелками). Рефлексы посторонних фаз на рентгенограмме композита не обнаружены, что указывает на отсутствие взаимодействия между компонентами композита.

ТГА и ДСК. Результаты термогравиметрического анализа и дифференциальной сканирующей калориметрии эквимолярной смеси Nd2(WO4)3 и SiO2 представлены на рис. 2, из которого видно, что во всем исследованном температурном интервале (70–1000°С) масса смеси вольфрамата неодима и оксида кремния не изменяется и тепловые эффекты не наблюдаются. Эти данные свидетельствуют о термодинамической стабильности композитов: при температуре до 1000°С химического взаимодействия между компонентами композита не происходит.

Рис. 2.

Данные ТГ-ДСК смеси 0.5Nd2(WO4)3–0.5SiO2.

Таким образом, двумя независимыми методами (ТГ-ДСК и РФА) установлено отсутствие химического взаимодействия между компонентами композитов (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2.

СЭМ и ЭДА. Морфология композитов и их элементный состав исследованы методом СЭМ-ЭДА. СЭМ-изображения сколов брикетов композитов различного состава и результаты ЭДА представлены на рис. 3.

Рис. 3.

СЭМ-изображение и результаты ЭДА сколов брикетов композитов: а – 0.90Nd2(WO4)3–0.10SiO2, б – 0.70Nd2(WO4)3–0.30SiO2.

На СЭМ-изображениях сколов брикетов композитов (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 видны крупные зерна вольфрамата неодима размером 5–20 мкм и мелкие зерна SiO2 (или, возможно, конгломераты зерен) размером ~0.1–1 мкм. При небольшом содержании кремнезема (10 мол. %) на СЭМ-изображениях видны отдельные зерна SiO2 или их цепи, которые они образуют вокруг зерен Nd2(WO4)3 (рис. 3а); при большем содержании кремнезема (30 мол. %) крупные зерна Nd2(WO4)3 равномерно окружены мелкими зернами SiO2 (рис. 3б).

Энергодисперсионный анализ (рис. 3а) показал наличие Nd, W и O и отсутствие Si на поверхности крупных зерен, что позволяет идентифицировать их как вольфрамат неодима. Спектр ЭДА мелких зерен, напротив, показывает наличие всех элементов, что с учетом рассеяния пучка позволяет их идентифицировать как SiO2.

На СЭМ-изображениях сколов брикетов композитов замечено, что мелкие зерна SiO2 втягиваются (проваливаются) в крупные зерна Nd2(WO4)3. Зерна вольфрамата неодима “обволакивают” мелкие зерна кремнезема, втягивая их в себя. Аналогичный эффект (поглощение крупными зернами вольфраматов мелких зерен дисперсной добавки) наблюдался нами ранее в системах Al2(WO4)3–Al2O3 [15], CaWO4–SiO2 [18] и La2(WO4)3–SiO2 [19].

Исследование электропроводности композитов в зависимости от температуры, содержания оксида кремния и парциального давления кислорода в газовой фазе

Политермы проводимости Nd2(WO4)3 и композитов (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 представлены на рис. 4. Эффективная энергия активации проводимости композитов составляет 0.9–1.1 эВ во всем исследованном температурном интервале. Близость энергии активации проводимости к 1 эВ косвенно свидетельствует о кислородно-ионном характере проводимости [21].

Рис. 4.

Зависимость электропроводности композитов (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 от обратной температуры.

Концентрационная зависимость проводимости композитов (1 – х)Nd2(WO4)3–xSiO2 представлена на рис. 5. Она имеет вид кривой с максимумом. Такой “куполообразный” вид концентрационной зависимости проводимости, характерный для систем ионная соль–диэлектрик, подробно описан в литературе [8] и объясняется в рамках перколяционной модели. Однако полученная в настоящей работе зависимость имеет некоторые особенности. Так, добавление до 20 мол. % кремнезема к вольфрамату неодима не приводит к существенному изменению электропроводности. С учетом разброса, характерного для гетерогенных систем, значения электропроводности композитов, содержащих до 20 мол. % SiO2, близки. Резкий рост проводимости происходит при добавлении к вольфрамату неодима >20 мол. % SiO2. Максимум проводимости наблюдается для состава 0.7Nd2(WO4)3–0.3SiO2. Электропроводность композита, содержащего 30 мол. % кремнезема, более чем на два порядка выше электропроводности Nd2(WO4)3.

Рис. 5.

Зависимость электропроводности композитов (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 от мольной доли SiO2 при разных температурах.

Для установления природы проводимости композитов была исследована зависимость электропроводности композитов от парциального давления кислорода в газовой фазе (рис. 6).

Рис. 6.

Зависимость электропроводности Nd2(WO4)3 и композита 0.75Nd2(WO4)3–0.25SiO2 от парциального давления кислорода в газовой фазе при разных температурах.

Как видно из рис. 6, проводимость вольфрамата неодима и композита на его основе не зависит от ${{P}_{{{{{\text{O}}}_{{\text{2}}}}}}},$ что указывает на ее ионный характер.

Рис. 7.

Температурная зависимость суммы ионных чисел переноса Nd2(WO4)3 и композита 0.75Nd2(WO4)3–0.25SiO2.

Исследование суммы ионных чисел переноса методом ЭДС

Для подтверждения ионного характера проводимости композитов в работе методом ЭДС были измерены ионные числа переноса композитов. Температурные зависимости Σtион Nd2(WO4)3 и композита 0.75Nd2(WO4)3–0.25SiO2 представлены на табл. 7 .

Сумма ионных чисел переноса вольфрамата неодима и композита 0.75Nd2(WO4)3–0.25SiO2 составляет 0.75–0.85. С учетом того, что Σtион, измеренная методом ЭДС, всегда имеет заниженное значение для керамики (поскольку из-за открытой пористости брикетов кислород диффундирует через образец), можно полагать, что в композите, как и в вольфрамате неодима, доминирует ионный перенос.

Таким образом, двумя независимыми методами (исследование зависимости электропроводности от давления кислорода в газовой фазе и измерение чисел переноса методом ЭДС) установлен преимущественно ионный характер проводимости композитов на основе вольфрамата неодима. Поскольку матрица композитов Nd2(WO4)3, как и другие вольфраматы РЗЭ со структурой дефектного шеелита, является кислородно-ионным проводником [7], а SiO2 – диэлектриком, можно предположить, что и в композитах (1 – x)Nd2(WO4)3–xSiO2 носителями заряда также являются ионы кислорода.

В литературе описано множество проявлений композитного эффекта: рост ионной проводимости [8–19, 22], улучшение спекания и увеличение механической прочности [8, 23, 24], возрастание сорбционных свойств [25], улучшение электрохимических характеристик катодных материалов [26, 27], рост газочувствительности полупроводниковых датчиков [28]. Существует множество теорий, объясняющих неаддитивное изменение различных физико-химических свойств композитов по сравнению с компонентами, но все они так или иначе связаны со свойствами межфазных границ матрица–дисперсоид. Так, рост ионной проводимости при гетерогенном допировании ионопроводящей матрицы инертной высокодисперсной добавкой связывают с вкладом межфазных границ в суммарную проводимость композита [8–11]. Называют следующие процессы на межфазных границах, приводящие к высокой ионной композитной проводимости: увеличение концентрации и подвижности дефектов на межфазной границе, образованной компонентами композита [8, 29], аморфизация матрицы вблизи межфазной границы [30–33], образование неавтономной поверхностной микрофазы [12, 13, 34].

Таким образом, рост электропроводности композитов (1 – х)Nd2(WO4)3–xSiO2 с увеличением содержания кремнезема связан с высокой ионной проводимостью межфазной границы Nd2(WO4)3|SiO2, образующейся в месте контакта матрицы и дисперсной добавки. Сегрегация мелких зерен SiO2 в приповерхностной области крупных зерен матрицы вольфрамата неодима, обнаруженная в данной работе методом СЭМ-ЭДА, способствует образованию связной системы проводящих межфазных границ Nd2(WO4)3|SiO2. Причиной втягивания зерен оксида кремния в зерна вольфрамата неодима, по-видимому, является разница поверхностной энергии данных веществ. Кремнезем – тугоплавкое вещество с высокой поверхностной энергией (γ = 68 Дж/м2 [35]), поэтому для уменьшения энергии системы выгодно покрывание его поверхности другим веществом с более низкой поверхностной энергией. Мелкие частицы кремнезема проникают через поверхность зерен вольфрамата неодима, “обволакиваются” им, образуя специфический поверхностный слой, состоящий из мелких зерен SiO2, покрытых Nd2(WO4)3. При последовательном увеличении содержания оксида кремния в композитах в пределах до 20 мол. % идет постепенное его накопление в приповерхностных областях зерен Nd2(WO4)3, на СЭМ-изображениях (рис. 3а) видны отдельные изолированные зерна или их цепи, сплошная пленка межфазных границ еще не образуется, поэтому проводимость композитов (1 – х)Nd2(WO4)3–xSiO2 с x < 0.2 меняется слабо. По-видимому, 20 мол. % – минимальное содержание оксида кремния в композите, необходимое для образования сплошной пленки высокопроводящих межфазных границ Nd2(WO4)3|SiO2. Об этом свидетельствует резкий рост проводимости композитов начиная с 20 мол. % SiO2, а также данные СЭМ, согласно которым в композитах, содержащих >20% кремнезема, зерна Nd2(WO4)3 полностью окружены зернами SiO2.

Проходя через максимум, соответствующий 30 мол. % SiO2, электропроводность начинает снижаться из-за разрыва сплошности межфазной границы частицами диэлектрика SiO2.

Таким образом, в системе Nd2(WO4)3–SiO2 имеет место композитный эффект проводимости; гетерогенное допирование вольфрамата неодима высокодисперсным кремнеземом позволило получить твердый электролит с высокой кислородной проводимостью.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Твердофазным методом получены композиты (1 – х)Nd2(WO4)3–xSiO2. Методами РФА и ТГ-ДСК установлено отсутствие химического взаимодействия между компонентами композитов. Измерение суммы ионных чисел переноса методом ЭДС и исследование зависимости электропроводности композитов от давления кислорода в газовой фазе показало, что они обладают преимущественно ионной проводимостью.

Концентрационные зависимости проводимости композитов (1 – х)Nd2(WO4)3–xSiO2 имеют вид кривой с максимумом. Введение 30 мол. % дисперсной добавки приводит к увеличению проводимости в системе Nd2(WO4)3–SiO2 более чем на два порядка. Таким образом, в исследуемой системе имеет место композитный эффект проводимости. Рост ионной проводимости при гетерогенном допировании вольфрамата неодима высокодисперсным кремнеземом обусловлен образованием связно-дисперсной системы проводящих межфазных границ Nd2(WO4)3|SiO2 в результате сегрегации мелких зерен SiO2 в приповерхностной области крупных зерен матрицы вольфрамата неодима.

Список литературы

  1. Boulon G., Metrat G., Muhlstein N. et al. // Conference on New Laser Technologies and Applications. 2003. https://doi.org/10.1117/12.513519

  2. Zhou Y., Yan B. // CrystEngComm. 2013. V. 15. № 28. P. 5694. https://doi.org/10.1039/c3ce40495a

  3. Kaczmarek A.M., Van Deun R. // Chem. Soc. Rev. 2013. V. 42. № 23. P. 8835. https://doi.org/10.1039/c3cs60166h

  4. Guzik M., Tomaszewicz E., Guyot Y. et al. // J. Mater. Chem. C. 2015. V. 3. № 16. P. 4057. https://doi.org/10.1039/c4tc02963a

  5. Liu J., Kaczmarek A.M., Van Deun R. // Chem. Soc. Rev. 2018. V. 47. P. 7225. https://doi.org/10.1039/c7cs00893g

  6. Ke J., Adnan Younis M., Kong Y. et al. // Nano-Micro Letters. 2018. V. 10. № 4. https://doi.org/10.1007/s40820-018-0222-4

  7. Pestereva N., Guseva A., Vyatkin I., Lopatin D. // Solid State Ionics. 2017. V. 301. P. 72. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2017.01.009

  8. Уваров Н.Ф. Композиционные твердые электролиты. Новосибирск: Изд-во СО РАН, 2008. 258 с.

  9. Knauth P. // J. Electroceram. 2000. V. 5. № 2. P. 111. https://doi.org/10.1023/a:1009906101421

  10. Yaroslavtsev A.B. // Russ. Chem. Rev. 2009. V. 78. № 11. P. 1013.

  11. Mateyshina Y., Slobodyuk A., Kavun V., Uvarov N. // Solid State Ionics. 2018. V. 324. P. 196. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2018.04.026

  12. Нейман А.Я., Пестерева Н.Н., Шарафутдинов А.Р. и др. // Электрохимия. 2005. Т. 41. С. 680.

  13. Пестерева Н.Н., Жукова А.Ю., Нейман А.Я. // Электрохимия. 2007. Т. 43. С. 1379.

  14. Гусевa А.Ф., Пестерева Н.Н., Востротинa Е.Л. и др. // Электрохимия. 2020. Т. 56. № 5. С. 475. https://doi.org/10.31857/S0424857020050035

  15. Гусева А.Ф., Пестерева Н.Н., Отческих Д.Д., Востротина Е.Л. // Электрохимия. 2019. Т. 55. № 6. С. 721.

  16. Köhler J., Kobayashi Y., Imanaka N., Adachi G. // Solid State Ionics. 1998. V. 113–115. P. 553. xhttps://doi.org/10.1016/S0167-2738(98)00321-

  17. Köhler J., Imanaka N., Adachi G. // Mater. Sci. Forum. 1999. V. 315–317. P. 537. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.315-317.537

  18. Guseva A.F., Pestereva N.N., Otcheskikh D.D., Kuznetsov D.V. // Solid State Ionics. 2021. V. 364. P. 115 626. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2021.115626

  19. Гусева А.Ф., Пестерева Н.Н., Пырлик Е.В., Корона Д.В. // Неорган. материалы. 2022. Т. 58. № 6. С. 633.

  20. Technical Bulletin Fine Particles № 11/ Basic Characteristics of Aerosil Fumed Silica. 4th ed. Essen: Evonik, 2003.

  21. Чеботин В.Н., Перфильев М.В. Электрохимия твердых электролитов. М.: Химия, 1978. 312 с.

  22. Veer D., Kumar P., Singh D. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2021. V. 66. P. 2059. https://doi.org/10.1134/S003602362114014X

  23. Titov D.D., Shcherbakova G.I., Gumennikova E.A. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2021. V. 66. P. 1141. https://doi.org/10.1134/S0036023621080295

  24. Obolkina T.O., Goldberg M.A., Antonova O.S. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2021. V. 66. P. 1223. https://doi.org/10.1134/S0036023621080192

  25. Tkachenko I.A., Panasenko A.E., Odinokov M.M. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2020. V. 65. P. 1142. https://doi.org/10.1134/S0036023620080173

  26. Medvedeva A.E., Pechen L.S., Makhonina E.V. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2019. V. 64. P. 829. https://doi.org/10.1134/S003602361907012X

  27. Kaimieva O.S., Kruzhkov D.A., Buyanova E.S. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2019. V. 64. P. 158. https://doi.org/10.1134/S0036023619020104

  28. Haiduk Y.S., Savitsky A.A., Khort A.A. // Russ. J. Inorg. Chem. 2019. V. 64. P. 717. https://doi.org/10.1134/S003602361906007X

  29. Uvarov N.F., Ulikhin A.S., Mateishina Yu.G. // Chemistry for Sustainable Development 20. 2012. P. 69.

  30. Mateyshina Y., Uvarov N. // Solid State Ionics. 2018. V. 324 P. 1. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2018.05.017

  31. Ulihin A.S., Uvarov N.F., Rabadanov K.S. et al. // Solid State Ionics. 2022. V. 378. 115889. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2022.115889

  32. Ulikhin A.S., Uvarov N.F., Kovalenko K.A., Fedin V.P. // Microporous Mesoporous Mater. 2022. V. 332. 111710. https://doi.org/10.1016/j.micromeso.2022.111710

  33. Улихин А.С., Уваров Н.Ф. // Электрохимия. 2021. Т. 57. № 10. С. 608.

  34. Neiman A.Ya., Uvarov N.F., Pestereva N.N. // Solid State Ionics. 2007. V. 177. P. 3361. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2006.10.006

  35. Wong P.L., Li X.M., Guo F. // Tribology Int. 2013. V. 61. P. 116. https://doi.org/10.1016/j.triboint.2012.12.009

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Журнал неорганической химии

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал