Микроэлектроника

Содержание

Том 49, Номер 2, 2020

КВАНТОВЫЕ КОМПЬЮТЕРЫ

Квантовый чип с оптимизированной туннельной структурой для измерения зарядового кубита на двойной квантовой точке
А. В. Цуканов, И. Ю. Катеев

Информация о статьеПолный текст (PDF)

83-100

ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

Особенности кинетики реактивно-ионного травления SiO₂ в фтор-, хлор- и бром-содержащей плазме
А. М. Ефремов, Д. Б. Мурин, В. Б. Бетелин, K.-H. Kwon

Информация о статьеПолный текст (PDF)

101-110

РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ

Исследование дефектообразования при облучении кремния γ-квантами
М. А. Сауров, С. В. Булярский, А. В. Лакалин

Информация о статьеПолный текст (PDF)

111-115

МОДЕЛИРОВАНИЕ

Моделирование процессов электронно-лучевой литографии
А. Е. Рогожин, Ф. А. Сидоров

Информация о статьеПолный текст (PDF)

116-132

ПРИБОРЫ

Термоэлектрическое охлаждение теплонагруженных элементов электроники
Е. Н. Васильев

Информация о статьеПолный текст (PDF)

133-141

СПИНТРОНИКА

Преобразователи магнитного поля на основе спин-туннельного магниторезистивного эффекта
Д. В. Васильев, Д. В. Костюк, Е. П. Орлов, Д. А. Жуков, Ю. В. Казаков, В. В. Амеличев, П. А. Беляков

Информация о статьеПолный текст (PDF)

142-148

СХЕМОТЕХНИКА

Синтез энергоэффективных схем триггеров на основе последовательно-параллельных структур МОП-транзисторов
А. А. Кулакова, Е. Б. Лукьяненко

Информация о статьеПолный текст (PDF)

149-155

ВЛИЯНИЕ УСЛОВИЙ ВОЗДЕЙСТВИЙ НА ПОКАЗАТЕЛИ СТОЙКОСТИ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ

Влияние режима работы портов ввода-вывода сложно-функциональных устройств на показатели импульсной электрической прочности изделия
А. Н. Шемонаев, К. А. Епифанцев, П. К. Скоробогатов

Информация о статьеПолный текст (PDF)

156-160

Информация о выпуске

Микроэлектроника