Микроэлектроника
Содержание
Том 48, Номер 5, 2019
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ
- Исследование влияния технеция в составе катализаторов из соединений РЗЭ на процесс разложения моногидридов кремния и германия
А. А. Ковалевский, А. С. Строгова, Д. Ф. Кузнецов, Я. С. Воронец, С. В. Гранько - 323-333
КВАНТОВЫЕ КОМПЬЮТЕРЫ
- Одноэлектронный транзистор на линейной структуре из трех туннельно-связанных КТ с электрическим и оптическим управлением
А. В. Цуканов - 334-342
ИЗБРАННЫЕ МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИИ “ПРОБЛЕМЫ РАЗРАБОТКИ ПЕРСПЕКТИВНЫХ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ” ПРОЕКТИРОВАНИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
- Особенности архитектуры, реализующей потоковую модель вычислений, и ее применение при создании микроэлектронных высокопроизводительных вычислительных систем
Д. Н. Змеев, А. В. Климов, Н. Н. Левченко, А. С. Окунев, А. Л. Стемпковский - 343-350
- Функциональные свойства и частотные характеристики низкочувствительных активных RC-фильтров на микромощных операционных усилителях
Д. Ю. Денисенко, Н. Н. Прокопенко, Ю. И. Иванов - 351-362
- О построении нейроморфных справочников неисправностей для аналоговых интегральных схем
С. Г. Мосин - 363-370
- Формальное описание функционирования цифровых управляющих систем и его использование при проектировании
А. Л. Стемпковский, А. Д. Иванников - 371-378
- Разработка тонкопленочного термоэлектрического генератора для маломощных применений
А. С. Коротков, В. В. Лобода, С. В. Дзюбаненко, Е. М. Бакулин - 379-388
ПРИБОРЫ
- Новый преобразователь уровня напряжения для маломощных приложений
В. В. Шубин - 389-394
ВЛИЯНИЕ УСЛОВИЙ ВОЗДЕЙСТВИЙ НА ПОКАЗАТЕЛИ СТОЙКОСТИ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
- Автоматизация испытаний ЭКБ на импульсную электрическую прочность
Н. С. Дятлов, К. А. Епифанцев, П. К. Скоробогатов - 395-400
Информация о выпуске
- Всего статей9
- Страницы323-400
Микроэлектроника