Микроэлектроника
Содержание
Том 48, Номер 4, 2019
МАТЕРИАЛЫ
- Влияние состава на диэлектрические свойства и перенос заряда в 2D мaтериалах GaS1 – хSeх
С. М. Асадов, С. Н. Мустафаева, В. Ф. Лукичев, Д. Т. Гусейнов - 243-248
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ
- Оценка взаимосвязи скорости атомно-слоевого осаждения тонких пленок металлов платиновой группы и молекулярной массы реагентов-предшественников
В. Ю. Васильев - 249-262
- Возможности управления концентрацией примесей в приповерхностных слоях пленок, выращенных методом ALD
А. В. Фадеев, К. В. Руденко - 263-271
- Атомно-слоевое осаждение пленок нитрида кремния на арсениде галлия с применением тлеющего разряда
Ю. К. Ежовский, С. В. Михайловский - 272-278
- Влияние добавки N2 на скорость травления GaAs в плазме CF2Cl2
С. А. Пивоваренок - 279-283
ИЗБРАННЫЕ МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИИ “ПРОБЛЕМЫ РАЗРАБОТКИ ПЕРСПЕКТИВНЫХ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ” ПРОЕКТИРОВАНИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
- Синтез схемы функционального контроля на основе спектрального R-кода с разбиением выходов на группы
А. Л. Стемпковский, Д. В. Тельпухов, Т. Д. Жукова, А. И. Деменева, В. В. Надоленко, С. И. Гуров - 284-294
- Механизмы возникновения нестабильных тиристорных эффектов в КМОП ИС
А. И. Чумаков, Д. В. Бобровский, А. А. Печенкин, Д. В. Савченков, Г. С. Сорокоумов, И. И. Швецов-Шиловский - 295-299
- Мемристорный генератор последовательности импульсов
В. В. Ракитин, С. Г. Русаков - 300-307
ПРИБОРЫ
- Микропотребляющие усилители мощности на нитриде галлия для диапазона частот 8–12 ГГц
С. А. Гамкрелидзе, Д. Л. Гнатюк, А. В. Зуев, М. В. Майтама, П. П. Мальцев, А. О. Михалев, Ю. В. Федоров - 308-314
- Межприборные радиационно-индуцированные утечки в объемной КМОП технологии 180 нм
А. Б. Боруздина, Ю. М. Герасимов, Н. Г. Григорьев, А. В. Кобыляцкий, А. В. Уланова, И. И. Швецов-Шиловский - 315-320
Информация о выпуске
- Всего статей10
- Страницы243-320
Микроэлектроника