Журнал неорганической химии, 2021, T. 66, № 7, стр. 885-889

Концентрационные зависимости параметров решетки и плотности монокристаллов трехкомпонентного твердого раствора Sr0.8La0.2 – xLuxF2.2 (0 ≤ x ≤ 0.2)

Н. И. Сорокин a*

a Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
119333 Москва, Ленинский пр-т, 59, Россия

* E-mail: nsorokin1@yandex.ru

Поступила в редакцию 18.11.2020
После доработки 22.01.2021
Принята к публикации 25.01.2021

Полный текст (PDF)

Аннотация

Изучены концентрационные зависимости параметра решетки a = f(x) и плотности ρ = f(x) для монокристаллов трехкомпонентного твердого раствора Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 (тип флюорита − CaF2, 0 ≤ ≤ x ≤ 0.2, x – мольная доля LuF3), полученных из расплава по методу Бриджмена. Экспериментальные зависимости a(x) и ρ(x) подчиняются закону аддитивности. Денситометрические данные подтверждают схему гетеровалентного изоморфизма в твердом растворе Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2: Sr2+ → → (1−5x)La3+ + 5xLu3+ + ${\text{F}}_{i}^{ - }$. Избыток положительного заряда в катионной подрешетке кристаллов компенсируется образованием междоузельных ионов Fi. Эти закономерности позволяют рассчитать параметры кристаллической решетки и плотность большого числа новых функциональных фторидных материалов − флюоритовых твердых растворов в тройных системах MF2–R'F3–R"F3 (M = Ca, Sr, Ba; R', R" = La–Lu, Y).

Ключевые слова: фториды, редкоземельные элементы, твердые растворы, структура флюорита, параметры решетки

ВВЕДЕНИЕ

Монокристаллические фторидные материалы представляют большой интерес для фундаментальной и прикладной науки. Они используются в качестве конструкционных оптических элементов, химических сенсоров, твердых электролитов для источников тока, детекторов для ионизирующих излучений и др. До сих пор поиск и активные исследования фторидных материалов проводились главным образом в бинарных системах MF2–RF3, где M – щелочноземельные элементы Ca, Sr, Ba и R – редкоземельные элементы (РЗЭ) La–Lu, Y. В этих системах наиболее многочисленными продуктами высокотемпературных химических взаимодействий являются двухкомпонентные твердые растворы M1 −xRxF2 +x со структурой типа флюорита (CaF2) [1]. Поэтому росту и физико-химическим свойствам кристаллов M1 −xRxF2 +x уделяется повышенное внимание [13].

Изоморфные двойные замещения катионов РЗЭ в матрицах MF2 многократно увеличивают число флюоритовых трехкомпонентных твердых растворов в тройных системах MF2–R'F3–R"F3. Однако свойства кристаллов практически не исследованы. Изучение большого числа трех- и более компонентных фторидных систем потребует значительных временных затрат, поэтому необходимо развивать прогнозирующие подходы в исследованиях многокомпонентных фторидов.

Для поиска таких подходов в качестве модельной системы нами выбрана тройная система SrF2–LaF3–LuF3 [3, 4], в которой реализуется максимальное различие в ионных радиусах катионов РЗЭ (радиус Lu3+ по отношению к La3+ меньше на 15.1% [5]). В структурных исследованиях обнаружено, что флюоритовые кристаллы Sr1 –xLaxF2 +x [6, 7] и Sr1 –xLuxF2 +x [810] имеют разный тип дефектной (кластерной) структуры, в них образуются тетраэдрические [La4F26] и октаэдро-кубические [Sr8Lu6F69] кластеры соответственно.

Согласно физико-химическим данным [11], в бинарных системах SrF2–RF3 (R = La и Lu) предельные области гомогенности флюоритовых твердых растворов простираются до 49 мол. % LaF3 и 37 мол. % LuF3 при нормальном давлении. Это позволяет получить непрерывный ряд трехкомпонентных твердых растворов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 при полном замещении катионов La3+ на Lu3+. Ранее [3, 4] нами обнаружено, что для кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 зависимость ионной проводимости является сложной функцией состава, в то время как экспериментальные зависимости параметров элементарных ячеек и плотности являются линейными функциями. В этих работах не исследовали влияние гетеровалентного изоморфизма на концентрационные зависимости параметров решетки и плотности трехкомпонентного твердого раствора и не проводили расчет величины их параметра элементарной ячейки и плотности с привлечением экспериментальных данных для двухкомпонентных фаз Sr1 –xLaxF2 +x и Sr1 –xLuxF2 +x.

Цель настоящей работы – определение расчетной величины параметра элементарной ячейки и плотности трехкомпонентных твердых растворов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 в предположении закона аддитивности и механизма компенсации разницы в зарядах замещающихся катионов за счет образования междоузельных ионов фтора.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Для выращивания кристаллов трехкомпонентного твердого раствора использовали коммерческие реактивы SrF2 марки “ос. ч.”, LaF3 и LuF3 марки “ч”. Очистку реактивов от примеси кислорода осуществляли предварительным фторированием расплава продуктами пиролиза политетрафторэтилена. Кристаллы Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 (x – мольная доля LuF3) с x = 0, 0.03, 0.06, 0.1, 0.14, 0.17 и 0.2 были получены из расплава по методу Бриджмена в двухзонной установке КРФ-1 с графитовыми нагревателями сопротивления (конструкция и изготовление СКБ ИК РАН). Температуры плавления компонентов SrF2, LaF3 и LuF3 равны 1464 ± 5, 1500 ± 10 и 1182 ± 10°С [1] соответственно. Рост кристаллов проводили в графитовом тигле, содержащем семь отдельных ячеек без затравочных каналов.

Осевой температурный градиент между горячей и холодной зонами печи равен ∼30°С/см, радиальный градиент в ростовой зоне не превышал 5°С/см. Для подавления характерной для фторидов реакции пирогидролиза выращивание кристаллов проводили в атмосфере He с добавлением в шихту дифторида PbF2 с низкой температурой плавления (825 ± 5°С) марки “ос. ч.” в количестве 5 мас. %. Скорость опускания тигля составляла 5.3 ± 0.2 мм/ч.

Выращенные монокристаллические були представляли собой цилиндры диаметром 10 мм и длиной ∼30 мм. Потери массы шихты при кристаллизации составили 0.7% для твердых растворов с x = 0.1, 0.14, 0.17, 0.2; 2.5% для твердых растворов с x = 0.03, 0.06 и 4% для кристалла SrF2 (x = 0).

Образцы вырезали из средней части выращенных монокристаллов, вид образца показан на рис. 1. По данным рентгенофлуоресцентного анализа [12], содержание трифторидов РЗЭ RF3 в средних частях выращенных монокристаллов Sr1 −xRxF2 +x соответствует составу шихты с точностью ±1 мол. % RF3.

Рис. 1.

Вид монокристаллического образца Sr0.8La0.03Lu0.17F2.2.

Однофазность образцов подтверждена рентгенографически на порошковом дифрактометре Filips PW1710 (CuKα-излучение, внутренний стандарт Si). Регистрацию дифрактограмм проводили в диапазоне углов 2θ 20°–110°. Рентгенограммы образцов относятся к кубической фазе со структурой типа CaF2 (пр. гр. Fm$\bar {3}$m, Z = 4). Полученные рентгеноструктурные данные для кубической сингонии обработаны с использованием программы DECO1877 (E. Halwax, TU Wien). Погрешность определения параметров элементарных ячеек твердых растворов равна ±6 × 10–4 Å. Параметры элементарной ячейки a(x) кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 приведены в табл. 1. Зависимость параметров решетки от состава показана на рис. 2.

Таблица 1.  

Характеристики кристаллов SrF2 и Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2

Кристалл Масса, г/моль Параметр решетки a, Å Плотность, г/см3 Молярный объем, см3/моль
ρ ρcal V Vcal
SrF2 125.616 5.800 4.277 29.37
Sr0.8La0.2–xLuxF2.2:
x = 0 139.679 5.8314(5) 4.688 4.679 29.80 29.85
x = 0.03 140.755 5.8195(4) 4.768 4.744 29.52 29.67
x = 0.06 141.837 5.8021(6) 4.823 4.823 29.41 29.41
x = 0.1 143.279 5.7831(3) 4.922 4.921 29.11 29.11
x = 0.14 144.722 5.7633(4) 5.018 5.021 28.84 28.82
x = 0.17 145.804 5.7466(4) 5.117 5.103 28.49 28.57
x = 0.2 146.885 5.7327(3) 5.180 5.178 28.36 28.37
Рис. 2.

Зависимость параметра решетки кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 от состава: кружки – эксперимент, прямая – аппроксимация экспериментальных данных линейным уравнением.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

Концентрационная зависимость экспериментальных значений параметров решетки a = f(x) удовлетворяет линейному уравнению (правилу Вегарда) с коэффициентом корреляции 0.999 [3]:

(1)
$a(x) = 5.832 - 0.5x,$
где концентрация x выражается в мольных долях LuF3, величина a – в Å. Параметр решетки двухкомпонентного кристалла Sr0.8Lu0.2F2.2 по сравнению с параметром решетки Sr0.8La0.2F2.2 меньше на 1.7%, это существенно меньше соотношения между ионными радиусами Lu3+ и La3+ с учетом концентрации последних. Параметр решетки трехкомпонентного твердого раствора Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 с x = 0.064 соответствует параметру решетки матрицы SrF2 (a0 = 5.800 Å).

Расчет параметра решетки трехкомпонентного твердого раствора Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 проведен из данных для двухкомпонентных растворов в предположении выполнения закона аддитивности:

(2)
${{a}_{{{\text{cal}}}}}\left( x \right) = {{a}_{0}} + 0.{\text{2}}{{k}_{{{\text{Sr}},{\text{La}}}}}--\left[ {{{k}_{{{\text{Sr}},{\text{La}}}}}--{{k}_{{{\text{Sr}},{\text{Lu}}}}}} \right]x,$
где a0 – параметр решетки матрицы SrF2, kSr,La – и kSr,Lu – линейные коэффициенты в концентрационных зависимостях параметров для твердых растворов Sr1 –xLaxF2 +x и Sr1 –xLuxF2 +x соответственно. Значения коэффициентов kSr,La = 0.1357 Å и kSr,Lu = − 0.3442 Å взяты из [13]. Сравнение экспериментальных и рассчитанных значений параметров решетки для кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 приведено на рис. 3. Из рисунка видно, что значения экспериментальных (a) и теоретических (acal) параметров решетки хорошо совпадают между собой. Таким образом, с учетом приведенных в литературе характеристик двухкомпонентных твердых растворов M1 −xRxF2 +x (M = Ca, Sr, Ba; R = La–Lu, Y) [13] можно аналогичным способом рассчитать параметры кристаллической решетки большого семейства флюоритовых твердых растворов в тройных системах MF2–R'F3–R"F3.

Рис. 3.

Сравнение рассчитанных (acal) и экспериментальных (a) параметров элементарной ячейки для кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2.

Денситометрические измерения проводили на образцах в виде дисков диаметром 10 мм и толщиной 1–2 мм. Плотность ρ измеряли методом гидростатического взвешивания в дистиллированной воде на приборе Mettler ME-33360 с точностью ±10–3 г/см3. Экспериментальные значения плотности ρ и молярного объема V = μ/ρ (μ − молярная масса) приведены в табл. 1. По мере увеличения содержания LuF3 плотность кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 растет от 4.69 г/см3 для Sr0.8La0.2F2.2 до 5.18 г/см3 для Sr0.8Lu0.2F2.2, что составляет 10.4% по отношению к меньшему значению плотности. Увеличение плотности в ряду кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 значительно превышает соответствующее изменение параметра решетки.

Концентрационная зависимость экспериментальной плотности ρ = f(x) также удовлетворяет правилу аддитивности (рис. 4) и может быть аппроксимирована линейным уравнением (коэффициент корреляции 0.997) [3]:

(3)
$\rho = {\text{4}}.{\text{68}} + {\text{2}}.{\text{47}}x,$
где плотность ρ задана в г/см3. Теоретическую рентгенографическую плотность кубических кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 рассчитывали по формуле:
(4)
${{\rho }_{{{\text{cal}}}}} = {\text{4}}\mu {\text{/}}({{a}^{{\text{3}}}}{{N}_{A}}),$
где μ – молярная масса и NA – постоянная Авогадро. Расчет молярной массы μ выполнен в предположении, что компенсация разницы в зарядах замещающихся катионов происходит за счет образования междоузельных ионов Fi. При этом с увеличением x от 0 до 0.2 в структуре твердых растворов происходит замена тетраэдрических кластеров [La4F26] на октаэдро-кубические кластеры [Sr8Lu6F69] [610].

Рис. 4.

Зависимость плотности кристаллов Sr0.8La0.2 ‒ xLuxF2.2 от состава: кружки – эксперимент, прямая – аппроксимация экспериментальных данных линейным уравнением.

Схема изоморфных замещений для компенсации избыточного заряда в структуре трехкомпонентного твердого раствора Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2 (0 ≤ x ≤ 0.2) имеет вид:

(5)
${\text{S}}{{{\text{r}}}^{{{\text{2}} + }}} \to ({\text{1}} - {\text{5}}x){\text{L}}{{{\text{a}}}^{{{\text{3}} + }}} + {\text{5}}x{\text{L}}{{{\text{u}}}^{{{\text{3}} + }}} + {{{\text{F}}}_{i}}^{--}.$

Расчетные значения плотности ρcal и молярного объема Vcal = μ/ρcal приведены в табл. 1, из которой видно, что значения экспериментальной (ρ) и теоретической (ρcal) плотности хорошо совпадают между собой (рис. 5). Это подтверждает справедливость использования междоузельной модели гетеровалентного изоморфизма для трехкомпонентных кристаллов .

Рис. 5.

Сравнение рентгенографической (ρcal) и экспериментальной (ρ) плотности для кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Из расплава методом направленной кристаллизации Бриджмена выращена концентрационная серия (0 ≤ x ≤ 0.2) флюоритовых кристаллов трехкомпонентного твердого раствора Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2. Особенности используемого метода получения кристаллов Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2: 1) очистка коммерческих реактивов SrF2, LaF3 и LuF3 от примеси кислорода предварительным фторированием расплава этих соединений продуктами пиролиза политетрафторэтилена, 2) подавление пирогидролиза фторидных кристаллов при их росте путем добавления в шихту фторида PbF2, 3) одновременное выращивание семи кристаллов твердого раствора разного состава, 4) низкие потери массы шихты при кристаллизации твердых растворов.

Экспериментальные зависимости параметра решетки a = f(x) и плотности ρ = f(x) трехкомпонентного твердого раствора от состава подчиняются закону аддитивности. Этот факт позволяет на основании характеристик двухкомпонентных твердых растворов M1 −xRxF2 +x (M = Ca, Sr, Ba; R = La–Lu, Y) рассчитать параметры кристаллической решетки и плотность большого числа флюоритовых трехкомпонентных твердых растворов в тройных системах MF2–R'F3–R"F3. Такие расчеты необходимы для конструирования новых функциональных фторидных материалов с характеристиками, максимально отвечающими требованиям научных и технических решений, использующих такие материалы.

Монокристаллы Sr0.8La0.2 –xLuxF2.2, содержащие в кристаллической структуре тетраэдрические [La4F26] и октаэдро-кубические [Sr8Lu6F69] кластеры, можно использовать в качестве модельной системы для изучения связи дефектной (кластерной) структуры и физических свойств многокомпонентных флюоритовых фаз.

Список литературы

  1. Sobolev B.P. The Rare Earth Trifluorides. Barcelona: Moscow Institute of Crystallography and Institut d’Estudis Catalans, 2000–2001. 980 p.

  2. Sobolev B.P., Sorokin N.I., Bolotina N.B. // Photonic & Electronic Properties of Fluoride Materials / Eds. Tressaud A., Poeppelmeier K. Amsterdam: Elsevier, 2016. P. 465.

  3. Сорокин Н.И., Кривандина Е.А., Жмурова З.И. // Кристаллография. 2013. Т. 58. № 6. С. 952. [Sorokin N.I., Krivandina E.A., Zhmurova Z.I. // Crystallogr. Rep. 2013. V. 58. № 6. P. 948.] https://doi.org/10.1134/S1063774513060217

  4. Sorokin N.I., Breiter M.W. // Solid State Ionics. 1997. V. 104. P. 325.

  5. Shannon R.D. // Acta Crystallogr., Sect. A. 1976. V. 32. P. 751.

  6. Сульянова Е.А., Болотина Н.Б., Калюканов А.И. и др. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 1. С. 47. [Sulyanova E.A., Bolotina N.B., Kalukanov A.I. et al. // Crystallogr. Rep. 2019. V. 64. № 1. P. 41.] https://doi.org/10.1134/S1063774519010279

  7. Мурадян Л.А., Максимов Б.А., Мамин Б.Ф. и др. // Кристаллография. 1986. Т. 31. № 2. С. 248.

  8. Сульянова Е.А., Верин И.А., Соболев Б.П. // Кристаллография. 2012. Т. 57. № 1. С. 79. [Sulyanova E.A., Verin I.A., Sobolev B.P. // Crystallogr. Rep. 2012. V. 57. № 1. P. 73]. https://doi.org/10.1134/S1063774512010130

  9. Сульянова Е.А., Молчанов В.Н., Верин И.А. и др. // Кристаллография. 2009. Т. 54. № 3. С. 554. [Sulyanova E.A., Molchanov V.N., Verin I.A. et al. // Crystallogr. Rep. 2009. V. 54. № 3. P. 516.] https://doi.org/10.1134/S1063774509030249

  10. Лошманов А.А., Максимов Б.А., Мурадян Л.А. и др. // Коорд. химия. 1989. Т. 15. № 8. С. 1133.

  11. Sobolev B.P., Seiranian K.B. // J. Solid State Chem. 1981. V. 39. № 2. P. 17.

  12. Туркина Т.М., Федоров П.П., Соболев Б.П. // Кристаллография. 1986. Т. 31. № 1. С. 146.

  13. Федоров П.П., Соболев Б.П. // Кристаллография. 1992. Т. 37. № 5. С. 1210.

Дополнительные материалы отсутствуют.