ЖЭТФ, 2022, том 162, вып. 6 (12), стр. 830-834
© 2022
ИЗЛУЧЕНИЕ МАТЕРИАЛЬНОЙ ЧАСТИЦЫ, НАХОДЯЩЕЙСЯ В
ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ СРЕДЕ ПОД ВОЗДЕЙСТВИЕМ
ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ
Б. А. Беляевa,b*, В. В. Тюрневa, Д. А. Шабановa,b
a Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ Сибирского отделения Российской академии наук
660036, Красноярск, Россия
b Сибирский федеральный университет
660041, Красноярск, Россия
Поступила в редакцию 15 июля 2022 г.,
после переработки 19 июля 2022 г.
Принята к публикации 20 июля 2022 г.
Учет излучения материальной частицы с отрицательной относительной диэлектрической проницаемо-
стью εp, находящейся под воздействием электромагнитного поля в среде с диэлектрической проницаемо-
стью εm, исключает неограниченный рост электрического дипольного момента частицы и порождаемых
им электрических полей при 2εmp → 0 в случае отсутствия потерь в среде и в частице. Рассчитанные
потери на излучение описываются поправкой к диэлектрическим потерям реальной частицы. На при-
мере полистирола с наночастицей серебра, имеющей отрицательную диэлектрическую проницаемость
в оптическом диапазоне, исследовано поведение поправки в зависимости от размера частицы при из-
менении ее диэлектрической проницаемости в интервале -16 < εp < 16. Установлено, что даже при
положительных значениях диэлектрической проницаемости наночастицы учет излучения существенно
повышает точность квазистатического расчета.
DOI: 10.31857/S0044451022120033
личением концентрации частиц быстро уменьшает-
EDN: LCBAMP
ся, так как в нем не учитывается электродиполь-
ное взаимодействие поляризованных частиц [3]. Это
взаимодействие было учтено Бруггеманом [4] в при-
1. ВВЕДЕНИЕ
ближении среднего поля (приближение эффектив-
ной среды), причем считалось, что размер частицы
Композиты, состоящие из диэлектрической мат-
с учетом ее диэлектрической проницаемости много
рицы с металлическими частицами размером мень-
меньше длины волны.
ше длины свободного пробега электронов, облада-
В теории эффективной среды [5] решается ква-
ют высокой добротностью в диапазоне ниже оп-
зистатическая задача о возбуждении дипольных ко-
тических частот и привлекают внимание исследо-
лебаний в сферической частице радиусом R, находя-
вателей возможностью значительного увеличения
щейся во внешнем электроманитном поле. Решение
эффективной диэлектрической проницаемости сре-
этой задачи выражается формулами [6]
ды с ростом концентрации частиц, что использует-
ся, в частности, при конструировании многослой-
m
ϕi = -
E0 · r,
ных полосно-пропускающих фильтров терагерцево-
m + εp
(1)
го диапазона [1]. Квазистатический расчет эффек-
εp - εm R3
ϕs =
E0 · r,
тивной диэлектрической проницаемости композита,
m + εp
r3
содержащего в диэлектрической матрице сфериче-
ские частицы, был впервые предложен Максвеллом-
где E0
заданный вектор напряженности внешнего
Гарнеттом [2]. Однако точность этого расчета с уве-
электрического поля, ϕi и ϕs искомые квазиста-
тические потенциалы электрического поля Ei внут-
* E-mail: belyaev@iph.krasn.ru
ри частицы (r ≤ R) и поля рассеяния Es снаружи
830
ЖЭТФ, том 162, вып. 6 (12), 2022
Излучение материальной частицы ...
частицы (r ≥ R), а εp и εm комплексные относи-
противоречит основополагающим принципам физи-
тельные диэлектрические проницаемости материала
ки. Это противоречие возникает из-за использова-
частицы и окружающей ее среды. Сравним потенци-
ния квазистатического приближения за пределами
ал ϕs с потенциалом ϕp поля точечного дипольного
его применимости, при этом возможность его раз-
момента p, выражаемого формулой
решения является целью работы. Отрицательными
диэлектрическими проницаемостями, как известно,
p·r
ϕp =
,
(2)
обладают некоторые сегнетоэлектрики [8], а в опти-
4πε0εmr3
ческом диапазоне металлы и металлические час-
где ε0
диэлектрическая проницаемость вакуума.
тицы [9, 10]. Поэтому полученные формулы спра-
Формула (2) получается из кулоновского потенциа-
ведливы только при положительных значениях ди-
ла
q
электрических проницаемостей матрицы и частиц,
ϕq =
(3)
4πε0εmr
а при различии знаков εm и εp эти формулы напря-
точечного заряда q и известного соотношения [7]
мую нельзя использовать в расчетах характеристик
композитов.
p
ϕp = -
gradϕq,
(4)
Указанный недостаток присущ и некоторым дру-
q
гим широко известным уравнениям и формулам, по-
выражающего потенциал точечного диполя через
лученным в квазистатическом приближении, в том
потенциал точечного заряда. Из выражений для по-
числе соотношению Клаузиуса-Моссотти, форму-
тенциалов ϕs и ϕp получаем формулу
лам Рэлея, Максвелла-Гарнетта и Бруггемана. На
εp - εm
такой недостаток формулы Рэлея было указано в ра-
p = 3V ε0εm
E0
(5)
m + εp
боте [11]. Там же было отмечено, что возбужденная
падающей электромагнитной волной частица долж-
для дипольного момента частицы, где V = 4πR3/3
на излучать запасаемую энергию, однако это излу-
объем частицы. Этот дипольный момент, согласно
чение мало, поэтому, как правило, не учитывается.
формулам (1), порождает внутреннее поле
Авторами [11] отмечено, что в случае металлической
m
частицы возбуждаются плазменные колебания, ам-
Ei =
E0
(6)
m + εp
плитуда которых неограниченно растет при равен-
стве 2εm + εp = 0, а значит, излучение частицы так-
и поле рассеяния
же должно увеличиваться, внося соответствующие
3
εp - εm R
потери, ограничивающие рост электрических полей,
Es =
[3rR-2(r · E0) - E0] .
(7)
m + εp r3
обеспечивая тем самым динамическое равновесие.
Обобщение формулы (6), полученной в квазистати-
ческом приближении, на случай частицы эллипсои-
3. РЕШЕНИЕ ПРОБЛЕМЫ
дальной формы представляется в виде [6]
εmE0
Для устранения указанного недостатка квазиста-
Ei =
,
(8)
N
тических расчетов необходимо рассчитать величину
εm + (εp - εm)
электромагнитного излучения возбужденной части-
где
N тензор коэффициентов деполяризации. В
цей, тем самым учесть связанные с ним ее потери
случае сферической частицы этот тензор принима-
электромагнитной энергии. В рассматриваемой за-
ет одно значение
N= 1/3.
даче основной вклад в электромагнитное излучение
дает излучение электрического диполя [12]. Усред-
ненная по времени мощность его излучения в сво-
2. ФОРМУЛИРОВКА ПРОБЛЕМЫ
бодном пространстве на круговой частоте ω выра-
жается формулой [13]
Заметим, что в знаменателях формул (1), (5)-(7)
стоит одинаковая сумма 2εm + εp. В результате при
ω4|p|2
отсутствии диэлектрических потерь в материалах,
P0 =
(9)
12πε0c3
когда одна из сред имеет отрицательную диэлек-
трическую проницаемость, электрический диполь-
Здесь c скорость света в вакууме. Выясним, как
ный момент частицы и порождаемые им электриче-
изменится эта мощность в случае, когда дипольное
ские поля устремляются в бесконечность, если сум-
излучение частицы происходит в материальной сре-
ма 2εm + εp приближается к нулю, что, очевидно,
де, которая может быть и композитом. Для этого
831
Б. А. Беляев, В. В. Тюрнев, Д. А. Шабанов
ЖЭТФ, том 162, вып. 6 (12), 2022
запишем формулу, выражающую связь мгновенной
Усредненная по времени мощность диэлектрических
мощности излучения Ps с интегралом вектора Пойн-
потерь в частице выражается формулой [6]
тинга [6],
∫∫
1
Pε =
V ωε0ε′′p|Ei|2.
(16)
Ps =
[E × H]ds,
(10)
2
S
Поэтому поправке Δε′′p будет отвечать приращение
по всей замкнутой поверхности S, охватывающей
мощности потерь на излучение
этот источник. Выразим в этой формуле поля E и
1
H диполя p, расположенного в материальной среде,
Pε =
V ωε0Δε′′p|Ei|2.
(17)
2
через поля E1 и H1 другого диполя той же величи-
ны p, но расположенного в свободном пространстве.
Эта формула после подстановки в нее формулы (6)
Из формулы (2) видно, что поле E, порождаемое
принимает вид
дипольным моментом p в материальной среде, свя-
2
зано с полем E1, порождаемым тем же дипольным
9
εm
Pε =
V ωε0Δε′′p
E20.
(18)
моментом, но уже в свободном пространстве, соот-
2
2εm + εp
ношением
E = E1m.
(11)
Подставляя формулы
(15) и
(18) в равенство
Pε =
Ps, находим искомую поправку
Связь же между электрическим и магнитным полем
в материальной среде и в свободном пространстве
√

3
εm
εp - εm
2

выражается формулами
Δε′′p =
(19)

6πc3
µm
εm
√µ0µm
E=
H,
E1 =
õ0H1.
(12)
Эту формулу можно переписать в виде
ε0εm
ε0
√

2
εm
εp - εm 2
Здесь µm и µ0 соответственно относительная маг-

Δε′′p =
θ3
,
(20)

нитная проницаемость среды и магнитная проница-
9
µm
εm
емость вакуума. После подстановки формул (11) и
если ввести обозначение θ = 2πR/λ, где λ длина
(12) в формулу (10) получаем выражение для мгно-
волны в свободном пространстве.
венной мощности излучения:
В результате замена комплексной диэлектриче-
∫∫
1
1
ской проницаемости εp = ε′p + iε′′p на
Ps =
[E1 × H1]ds =
P0.
εm
√εmµm
εm
εmµm
S
εp = εp + iΔεp′
(21)
(13)
Отсюда с учетом формулы (9) находим усредненную
позволяет в решениях задач квазистатики строго
по времени мощность электродипольного излучения
учесть электромагнитное излучение частицы в ма-
частицы в материальной среде:
териальной среде под воздействием внешнего элек-
тромагнитного поля. В частности, подставляя (21)
2
ω4|p|
в (6), получаем уточненную формулу
Ps =
(14)
12πc3ε0m
√εmµm|.
m
Ei =
E0
(22)
Подставляя сюда (5), получаем искомую формулу
m + εp
√
2
для поля внутри сферической частицы.
3V2ω4ε0
εm
 εp - εm
Ps =
E20
(15)
Введем относительную поправку δ для внутрен-
4πc3
µm
2εm + εp
него поля Ei, обусловленную потерями на излуче-
ние частицы, находящейся в среде с диэлектриче-
для усредненной по времени излучаемой мощности,
ской проницаемостью εm:
выраженной через амплитуду внешнего поля E0.
В уравнениях квазистатики потери мощности,
Δε′′p
δ=
(23)
связанные с электромагнитным излучением части-
.
2εm + εp + iΔε′′
p
цы, не учитываются. Однако эти потери можно
учесть, прибавив к мнимой части ее комплексной
Выясним, сколь она велика при расчете внутренне-
диэлектрической проницаемости εp поправку Δε′′p.
го поля Ei по формуле (22) для конкретного случая,
832
ЖЭТФ, том 162, вып. 6 (12), 2022
Излучение материальной частицы ...
например, для частицы серебра, помещенной в по-
цаемости частицы ε′p представлены зависимости от-
листирол. В оптическом диапазоне на длине волны
носительной поправки δ(ε′p) для трех значений ди-
λ = 397 нм эти материалы имеют диэлектрические
электрической проницаемости окружающей среды
проницаемости εp = -4.3+0.2i и εm = 2.65+3·10-4i
εm, но при фиксированных значениях радиуса час-
[1, 14, 15]. Для заданных параметров на рис. 1 по-
тицы R = 40 нм и мнимой части ее диэлектрической
строена зависимость поправки δ от размера части-
проницаемости ε′′p = 0.2.
цы. Видно, что по мере увеличения радиуса части-
Видно, что зависимости δ(ε′p) на рис. 2 имеют
цы R поправка δ неограниченно возрастает пропор-
по одному ярко выраженному максимуму и по од-
ционально объему частицы (см. формулу (19)), т.е.
ному слабо выраженному минимуму. Максимумы
δ∼R3.
располагаются в области отрицательных значений
ε′p вблизи точек, в которых выполняется условие
0.6
e p = -4.3 + i 0.2
m + εp = 0, что приводит к резкому увеличе-
0.5
нию излучения и соответствующему росту диэлек-
e m = 2.65 + i 3×10-4
трических потерь частицы. Минимумы располага-
0.4
ются в области положительных значений ε′p в точ-
0.3
ках εm = εp, в которых согласно формуле (19) из-
лучение частицы отсутствует. Однако с дальнейшим
0.2
ростом ε′p излучение монотонно увеличивается, при-
0.1
чем значительно медленнее для больших значений
диэлектрической проницаемости среды εm, что так-
0
10
20
30
40
же следует из формулы (19).
R (нм)
Как и ожидалось, при любых значениях диэлек-
величина от-
трической проницаемости среды εm
Рис. 1. Зависимость относительной поправки δ от размера
носительной поправки δ много больше для частиц
радиуса частицы
с отрицательной диэлектрической проницаемостью
при одинаковых по модулю значениях |εp|. В част-
= 4
d
ности, при замене диэлектрической проницаемости
5
0.04
частицы серебра на длине волны λ = 397 нм с
2.65
εp = -4.3 + 0.2i на εp = +4.3 + 0.2i относительная
4
0.03
R = 40 нм
поправка δ уменьшается больше, чем в 100 раз с 0.6
ε = 0.2
1.5
до 3.7 · 10-3 независимо от размера частицы. По-
p
3
0.02
этому поправка Δε′′p, вычисляемая по формуле (19),
очень важна, прежде всего, в задачах квазистати-
2
0.01
ки, содержащих частицы с отрицательной диэлек-
трической проницаемостью. Важно отметить, что
1
-2
0
2
4
6
поправку на излучение можно не учитывать, если
Δε′′p ≪ 2ε′′m + ε′′p, что видно из формулы (23).
-16
-12
-8
-4
0
4
8
12
16
4. ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Рис. 2. Зависимости относительной поправки δ от дей-
Таким образом, учет излучения материальной
ствительной компоненты диэлектрической проницаемости
частицы с отрицательной диэлектрической прони-
частицы для трех значений диэлектрической проницаемо-
цаемостью εp, находящейся под воздействием элек-
сти окружающей среды εm
тромагнитного поля в диэлектрической среде с по-
ложительной диэлектрической проницаемостью εm,
Важно отметить, что отрицательная диэлектри-
в случае отсутствия потерь позволяет устранить
ческая проницаемость наночастиц серебра быстро
неограниченный рост электрического дипольного
возрастает по модулю с увеличением длины элек-
момента частицы и порождаемого им электрическо-
тромагнитной волны и при λ = 1393 нм достигает
го поля при 2εm + εp = 0. Потери на излучение
величины εp = -102.0 + 2.6i [9, 14]. С учетом это-
учитываются поправкой Δε′′p к диэлектрическим
го факта на рис. 2 в широком диапазоне измене-
потерям частицы, которая согласно формуле (19)
ния действительной части диэлектрической прони-
833
Б. А. Беляев, В. В. Тюрнев, Д. А. Шабанов
ЖЭТФ, том 162, вып. 6 (12), 2022
определяется как электромагнитными характери-
2.
J.C. Maxwell Garnett, Phil. Trans. Roy. Soc. Lond. A
стиками среды и частицы, так и частотой электро-
203, 359 (1904).
магнитного излучения и размерами частицы. По-
3.
Б.А. Беляев, В.В. Тюрнев, ЖЭТФ 154, 716 (2018).
правка Δε′′p пропорциональна кубу частоты (ω3) и
кубу радиуса (R3) для сферической частицы. На
4.
D.A.G. Bruggeman, Ann. Phys. 24, 636 (1935).
примере полистирола с частицей серебра, имеющей
5.
T.C. Choy, Effective Medium Theory, Oxford Univ.
отрицательную диэлектрическую проницаемость в
Press, Oxford (2016), Ch. 1.
оптическом диапазоне, исследовано поведение отно-
сительной поправки с увеличением размера частицы
6.
Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц, Теоретическая физи-
до 40 нм, а также при изменении ее диэлектрической
ка, т. 8, Электродинамика сплошных сред, Наука,
проницаемости в интервале -16 ≤ ε′p ≤ 16. Уста-
Москва (1982), §8, §80.
новлено, что максимумы излучения располагаются
7.
Р. Фейнман, Р. Лейтон, М. Сэндс, Фейнманов-
в области отрицательных значений ε′p вблизи точек,
ские лекции по физике, вып. 5, Электричество
в которых выполняется условие 2ε′m′p = 0. Важно
и магнетизм, Мир, Москва
(1977), гл.
6,
§4
отметить, что даже при положительных значениях
(6.16); R. P. Feynman, R. B. Leighton, and M.
диэлектрических проницаемостей среды и наноча-
Sands, The Feynman Lectures on Physics. Mainly
стицы учет излучения заметно повышает точность
Electromagnetism and Matter, Reading (1964), Ch.
квазистатического расчета.
6-4 (6.16).
Представленный расчет учета излучения мате-
8.
D.J.R. Appleby, N.K. Ponon, K.S.K. Kwa et al., Nano
риальной частицы, находящейся в диэлектрической
Lett. 14, 3864 (2014).
среде, возможно, позволит решить проблему квази-
статического расчета по Бруггеману [4] эффектив-
9.
P. B. Johnson and R. W. Christy, Phys. Rev. B 6,
ной диэлектрической проницаемости εeff компози-
4370 (1972).
та, содержащего металлические частицы в диэлек-
10.
Railing Changa, H.-P. Chianga, P.T. Leungb,
трической матрице, описанную в работе [14]. Про-
D.P. Tsaid, and W.S. Tse, Sol. St. Com. 133, 315
блема заключается в том, что с увеличением кон-
(2005).
центрации металлических частиц, имеющих отри-
цательную диэлектрическую проницаемость, суще-
11.
М.И. Трибельский, А.Е. Мирошниченко, УФН
192, 45 (2022).
ствует область концентраций в композите, в которой
εeff имеет мнимую компоненту в случае отсутствия
12.
B. A. Belyaev and V. V. Tyurnev, Microw. Opt.
потерь в частицах и в матрице. Это, как справедли-
Technol. Lett. 58, 1883 (2016).
во отмечено в [14], противоречит физике.
13.
Л. Д. Ландау, Е. М. Лифшиц, Теоретическая фи-
зика, т. 2, Теория поля, Наука, Москва (1967), §67.
ЛИТЕРАТУРА
14.
T. G. Mackay, J. Nanophoton. 1, 019501 (2007).
1. Б.А. Беляев, Ан.А. Лексиков, В.В. Тюрнев и др.,
15.
X. Zhang, J. Qio, X. Li, J. Zhao, and L. Liu, Appl.
ДАН 497, 5 (2021).
Opt. 59, 2337 (2020).
834